晶体的边缘指的是晶体中晶体结构与周围环境相变的区域，通常表现为晶体表面的一层薄膜。晶体的表面可以通过显微镜等工具进行观察和测量，具体方法如下：光学显微镜：使用光学显微镜观察晶体表面，可以看到晶体表面的轮廓和形貌。通过对晶体表面轮廓的测量，可以计算出晶体的表面积和边缘长度等参数。扫描电镜：扫描电镜可以观察到更高分辨率的晶体表面结构，可以用于测量晶体表面的结晶度、晶界和缺陷等。X射线衍射：通过X射线衍射技术可以得到晶体的结晶结构信息，包括晶体的晶胞大小、晶面指数和结晶方向等，从而可以确定晶体表面的结构和边缘位置。综上所述，测量晶体的边缘需要使用显微镜等工具对晶体表面进行观察和测量，以确定晶体结构与周围环境的相变区域。