KLA Filmetrics 膜厚测量系统F50【半导体设备吧】

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二手设备现货→（坐标：苏州）
KLA | Filmetrics 膜厚测量系统F50
厚度范围：20nm-70um
波长范围：380-1050nm
F50平台：100mm,200mm,300mm
可追溯的NIST厚度标准片
系统内已建数百种材料库
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来自iPhone客户端1楼2023-10-12 20:34回复

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